YD/T 2177-2010 基于互联网小型计算机系统接口(iSCSI)的IP存储设备技术要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 09:49:32   浏览:8514   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:基于互联网小型计算机系统接口(iSCSI)的IP存储设备技术要求
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2011-01-01
实施日期:2011-01-01
首发日期:
作废日期:
出版社:人民邮电出版社
出版日期:2011-01-01
适用范围

本标准规定了基于互联网小型计算机系统接口的IP存储设备的技术要求,包括接口、指标、功能、协议、网管、安全、电源及接地、环境等方面的要求。

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所属分类: 综合 标志 包装 运输 贮存 包装材料与容器 货物的包装和调运 麻袋 袋子
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【英文标准名称】:StandardPracticeforReportingSputterDepthProfileDatainSecondaryIonMassSpectrometry(SIMS)
【原文标准名称】:报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程
【标准号】:ASTME1162-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.06
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据;深度;深度测量;精整;质谱学;金属;工艺;截面;频谱测定法;表面
【英文主题词】:
【摘要】:ThispracticeisusedforreportingtheexperimentalconditionsasspecifiedinSection6inthex201C;Methodsx201D;orx201C;Experimentalx201D;sectionsofotherpublications(subjecttoeditorialrestrictions).Thereportwouldincludespecificconditionsforeachdataset,particularly,ifanyparametersarechangedfordifferentsputterdepthprofiledatasetsinapublication.Forexample,footnotesoftablesorfigurecaptionswouldbeusedtospecifydifferingconditions.1.1Thispracticecoverstheinformationneededtodescribeandreportinstrumentation,specimenparameters,experimentalconditions,anddatareductionprocedures.SIMSsputterdepthprofilescanbeobtainedusingawidevarietyofprimarybeamexcitationconditions,massanalysis,dataacquisition,andprocessingtechniques(1-4).1.2LimitationsThispracticeislimitedtoconventionalsputterdepthprofilesinwhichinformationisaveragedovertheanalyzedareaintheplaneofthespecimen.Ionmicroprobeormicroscopetechniquespermittinglateralspatialresolutionofsecondaryionswithintheanalyzedarea,forexample,imagedepthprofiling,areexcluded.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:


【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents;ruleofprocedure8:attestationofconformity
【原文标准名称】:电子元件质量评定协调体系;方法规则8.合格验证(CECC00108)
【标准号】:DIN45901-8-1981
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1981-02
【实施或试行日期】:1981-02-00
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子学;电子工程;质量评定;标准化;电气工程;合格;作标记;元部件
【英文主题词】:standardization;electronics;components;qualityassessment;electronicengineering;electricalengineering;conformity;electricalengineering;marking;qualifications;qualified
【摘要】:
【中国标准分类号】:L00
【国际标准分类号】:31_020
【页数】:14P;A4
【正文语种】:德语